Advances in speckle metrology and related techniques /

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Kaufmann, Guillermo H.
Μορφή: Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Weinheim : Wiley-VCH, [2011]
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link
LEADER 02632nam a2200541 4500
001 ocn707924246
003 OCoLC
005 20170124070724.3
006 m o d
007 cr cnu---unuuu
008 110321s2011 gw a ob 001 0 eng d
040 |a N$T  |b eng  |e pn  |c N$T  |d E7B  |d DG1  |d YDXCP  |d UIU  |d CDX  |d OCLCQ  |d DEBSZ  |d OCLCQ  |d NLGGC  |d OTZ  |d OCLCQ  |d OCLCF  |d OCLCQ  |d GrThAP 
019 |a 705353478  |a 716232231  |a 781264201 
020 |a 9783527633869  |q (electronic bk.) 
020 |a 3527633863  |q (electronic bk.) 
020 |a 9783527633852  |q (electronic bk.) 
020 |a 3527633855  |q (electronic bk.) 
020 |z 9783527409570 
020 |z 3527409572 
029 1 |a AU@  |b 000047497167 
029 1 |a DEBSZ  |b 372800173 
029 1 |a NZ1  |b 13876189 
029 1 |a NZ1  |b 15340305 
029 1 |a DEBBG  |b BV043392905 
035 |a (OCoLC)707924246  |z (OCoLC)705353478  |z (OCoLC)716232231  |z (OCoLC)781264201 
037 |a 10.1002/9783527633852  |b Wiley InterScience  |n http://www3.interscience.wiley.com 
050 4 |a TA1555  |b .A38 2011eb 
072 7 |a SCI  |x 053000  |2 bisacsh 
082 0 4 |a 535/.470287  |2 22 
049 |a MAIN 
245 0 0 |a Advances in speckle metrology and related techniques /  |c edited by Guillermo H. Kaufmann. 
264 1 |a Weinheim :  |b Wiley-VCH,  |c [2011] 
264 4 |c ©2011 
300 |a 1 online resource (xviii, 309 pages) :  |b illustrations 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a computer  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online resource  |b cr  |2 rdacarrier 
504 |a Includes bibliographical references and index. 
505 0 |a Radial Speckle Interferometry and Applications / Armando Albertazzi Gonçalves, Matías R Viotti -- Depth-Resolved Displacement Field Measurement / Jonathan M Huntley, Pablo D Ruiz -- Single-Image Interferogram Demodulation / Manuel Servin, Julio Estrada, Antonio Quiroga -- Phase Evaluation in Temporal Speckle Pattern Interferometry Using Time-Frequency Methods / Alejandro Federico, Guillermo H Kaufmann -- Optical Vortex Metrology / Wei Wang, Steen G Hanson, Mitsuo Takeda -- Speckle Coding for Optical and Digital Data Security Applications / Arvind Kumar, Madan Singh, Kehar Singh. 
588 0 |a Print version record. 
650 0 |a Speckle metrology. 
650 7 |a SCIENCE  |x Physics  |x Optics & Light.  |2 bisacsh 
650 7 |a Speckle metrology.  |2 fast  |0 (OCoLC)fst01432101 
655 4 |a Electronic books. 
700 1 |a Kaufmann, Guillermo H. 
776 0 8 |i Print version:  |t Advances in Speckle Metrology and Related Techniques.  |d Vch Pub 2011  |z 9783527409570  |w (OCoLC)679941440 
856 4 0 |u https://doi.org/10.1002/9783527633852  |z Full Text via HEAL-Link 
994 |a 92  |b DG1