Advances in speckle metrology and related techniques /
Άλλοι συγγραφείς: | Kaufmann, Guillermo H. |
---|---|
Μορφή: | Ηλ. βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Weinheim :
Wiley-VCH,
[2011]
|
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | Full Text via HEAL-Link |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Raman spectroscopy in graphene related systems /
Έκδοση: (2011) -
Optical imaging and metrology : advanced technologies /
Έκδοση: (2012) -
Quantum metrology : foundation of units and measurements /
ανά: Göbel, Ernst O., κ.ά.
Έκδοση: (2015) -
Applied metrology for manufacturing engineering /
ανά: Grous, Ammar
Έκδοση: (2011) -
Laser metrology in fluid mechanics : granulometry, temperature and concentration measurements /
ανά: Boutier, A. (Alain)
Έκδοση: (2013)