Optics of charged particle analyzers /

Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials--Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at hig...

Πλήρης περιγραφή

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Hawkes, P. W.
Μορφή: Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Amsterdam : Academic Press/Elsevier, 2011.
Έκδοση:1st ed.
Σειρά:Advances in imaging and electron physics ; v. 168.
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link

Παρόμοια τεκμήρια