Atomic force microscopy : exploring basic modes and advanced applications /

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Haugstad, Greg, 1963-
Μορφή: Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Hoboken, N.J. : John Wiley & Sons, [2012]
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link

Παρόμοια τεκμήρια