Atomic force microscopy : exploring basic modes and advanced applications /
Κύριος συγγραφέας: | Haugstad, Greg, 1963- |
---|---|
Μορφή: | Ηλ. βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Hoboken, N.J. :
John Wiley & Sons,
[2012]
|
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | Full Text via HEAL-Link |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Atomic Force Microscopy in Cell Biology /
Έκδοση: (2002) -
Atomic force microscopy in liquid : biological applications /
Έκδοση: (2012) -
Low voltage electron microscopy : principles and applications /
Έκδοση: (2013) -
Advances in acoustic microscopy and high resolution imaging : from principles to applications /
Έκδοση: (2013) -
Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy /
ανά: Brydson, Rik
Έκδοση: (2011)