Systematische Beurteilung technischer Schadensflle /
Άλλοι συγγραφείς: | Pohl, Michael, Lange, Günter |
---|---|
Μορφή: | Ηλ. βιβλίο |
Γλώσσα: | German |
Έκδοση: |
Weinheim, Germany :
Wiley-VCH,
2014.
|
Έκδοση: | Sechste Auflage. |
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | Full Text via HEAL-Link |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Electrical overstress (EOS) : devices, circuits, and systems /
ανά: Voldman, Steven H.
Έκδοση: (2013) -
Silicon technologies : ion implantation and thermal treatment /
Έκδοση: (2011) -
Transparent oxide electronics : from materials to devices /
Έκδοση: (2012) -
Fundamentals of silicon carbide technology : growth, characterization, devices and applications /
ανά: Kimoto, Tsunenobu, 1963-
Έκδοση: (2014) -
Beyond-CMOS nanodevices 2 /
Έκδοση: (2014)