Quantum metrology : foundation of units and measurements /
Κύριοι συγγραφείς: | Göbel, Ernst O. (Συγγραφέας), Siegner, Uwe (Συγγραφέας) |
---|---|
Μορφή: | Ηλ. βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Weinheim, Germany :
Wiley-VCH,
[2015]
|
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | Full Text via HEAL-Link |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Optical imaging and metrology : advanced technologies /
Έκδοση: (2012) -
Laser metrology in fluid mechanics : granulometry, temperature and concentration measurements /
ανά: Boutier, A. (Alain)
Έκδοση: (2013) -
Quantum teleportation and entanglement : a hybrid approach to optical quantum information processing /
ανά: Furusawa, Akira
Έκδοση: (2011) -
Applied metrology for manufacturing engineering /
ανά: Grous, Ammar
Έκδοση: (2011) -
The quantum challenge : modern research on the foundations of quantum mechanics /
ανά: Greenstein, George, 1940-
Έκδοση: (1997)