Quantum metrology : foundation of units and measurements /
| Κύριοι συγγραφείς: | Göbel, Ernst O. (Συγγραφέας), Siegner, Uwe (Συγγραφέας) |
|---|---|
| Μορφή: | Ηλ. βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Weinheim, Germany :
Wiley-VCH,
[2015]
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | Full Text via HEAL-Link |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Optical imaging and metrology : advanced technologies /
Έκδοση: (2012) -
Laser metrology in fluid mechanics : granulometry, temperature and concentration measurements /
ανά: Boutier, A. (Alain)
Έκδοση: (2013) -
Applied metrology for manufacturing engineering /
ανά: Grous, Ammar
Έκδοση: (2011) -
Quantum teleportation and entanglement : a hybrid approach to optical quantum information processing /
ανά: Furusawa, Akira
Έκδοση: (2011) -
Raman spectroscopy in graphene related systems /
Έκδοση: (2011)