Εμφανίζονται 1 - 3 Αποτελέσματα από 3 για την αναζήτηση '', χρόνος αναζήτησης: 0,02δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1
    Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics Time Dependent Failure Mechanisms /
    ανά Borja, Juan Pablo, Lu, Toh-Ming, Plawsky, Joel
    Έκδοση 2016
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  2. 2
    Evolution of Thin Film Morphology Modeling and Simulations /
    ανά Pelliccione, Matthew, Lu, Toh-Ming
    Έκδοση 2008
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  3. 3
    Metal-Dielectric Interfaces in Gigascale Electronics Thermal and Electrical Stability /
    ανά He, Ming, Lu, Toh-Ming
    Έκδοση 2012
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Εργαλεία αναζήτησης: Λήψη RSS – Αποστολή αναζήτησης με email