Εμφανίζονται 1 - 3 Αποτελέσματα από 3 για την αναζήτηση '"Frontiers in Electronic Testing"', χρόνος αναζήτησης: 0,02δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1
    CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test /
    ανά Pavlov, Andrei, Sachdev, Manoj
    Έκδοση 2008
    “…Frontiers In Electronic Testing,…”
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  2. 2
    Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2nd Edition /
    Έκδοση 2007
    “…Frontiers in Electronic Testing,…”
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  3. 3
    Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
    ανά Sachdev, Manoj
    Έκδοση 1998
    “…Frontiers in Electronic Testing / Vishwani D. Agrawal…”
    Βιβλίο
Εργαλεία αναζήτησης: Λήψη RSS – Αποστολή αναζήτησης με email