Εμφανίζονται 1 - 12 Αποτελέσματα από 12 για την αναζήτηση '"Frontiers in Electronic Testing"', χρόνος αναζήτησης: 0,03δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1
    Introduction to ID̳D̳Q̳ testing /
    ανά Chakravarty, Sreejit
    Έκδοση 1997
    “…Frontiers in electronic testing…”
    Βιβλίο
  2. 2
    Testing and testable design of high-density random-access memories /
    ανά Mazumder, Pinaki
    Έκδοση 1996
    “…Frontiers in electronic testing…”
    Βιβλίο
  3. 3
    Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
    ανά Larsson, Erik
    Έκδοση 2005
    “…Frontiers in Electronic Testing…”
    Λήψη πλήρους κειμένου
    Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
  4. 4
    Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
    ανά Kabisatpathy, Prithviraj
    Έκδοση 2005
    “…Frontiers in Electronic Testing…”
    Λήψη πλήρους κειμένου
    Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
  5. 5
    Data Mining and Diagnosing IC Fails
    ανά Huisman, Leendert M.
    Έκδοση 2005
    “…Frontiers in Electronic Testing…”
    Λήψη πλήρους κειμένου
    Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
  6. 6
    Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting
    ανά Gizopoulos, Dimitris
    Έκδοση 2006
    “…Frontiers in Electronic Testing…”
    Λήψη πλήρους κειμένου
    Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
  7. 7
    Digital Timing Measurements From Scopes and Probes to Timing and Jitter
    ανά Maichen, Wolfgang
    Έκδοση 2006
    “…Frontiers in Electronic Testing…”
    Λήψη πλήρους κειμένου
    Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
  8. 8
    The Core Test Wrapper Handbook Rationale and Application of IEEE Std. 1500β„'
    ανά Silva, Francisco
    Έκδοση 2006
    “…Frontiers in Electronic Testing…”
    Λήψη πλήρους κειμένου
    Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
  9. 9
    Models in Hardware Testing Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault
    ανά Wunderlich, Hans-Joachim
    Έκδοση 2010
    “…Frontiers in Electronic Testing…”
    Λήψη πλήρους κειμένου
    Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
  10. 10
    IDDQ testing of VLSI circuits /
    Έκδοση 1997
    “…Frontiers in electronic testing…”
    Βιβλίο
  11. 11
    Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /
    “…Frontiers in electronic testing ;…”
    Βιβλίο
  12. 12
    Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
    ανά Sachdev, Manoj
    Έκδοση 1998
    “…Frontiers in Electronic Testing / Vishwani D. Agrawal…”
    Βιβλίο
Εργαλεία αναζήτησης: Λήψη RSS – Αποστολή αναζήτησης με email