Εμφανίζονται 1 - 19 Αποτελέσματα από 19 για την αναζήτηση '', χρόνος αναζήτησης: 0,03δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1
    Design to Test A Definite Guide for Electronic Design, Manufacture, and Service
    ανά Turino, Jon
    Έκδοση 1990
    Βιβλίο
  2. 2
    Entwerfen, Prufen, Testen Dagsthl-Seminar-Report; 6 18.2.1991-22.2.1991(9108)
    Βιβλίο
  3. 3
    From contamination to defects, foults and yield loss Simulation and applications
    ανά Khare, Jitendra B., Maly, Wojciech
    Έκδοση 1996
    Βιβλίο
  4. 4
    Integration of test with design and manufacturing International test conference proceedings 1987 Washington DC, september 1,2,3 1987
    Έκδοση 1987
    Πρακτικό Συνεδρίου Βιβλίο
  5. 5
    International Test Conference Proceedings, 1995
    Έκδοση 1995
    Πρακτικό Συνεδρίου Βιβλίο
  6. 6
    Meeting the Tests of Time Proceedings of the International Test Conference 1989 August 29-31,1989, Washington, D.C.
    Έκδοση 1989
    Πρακτικό Συνεδρίου Βιβλίο
  7. 7
    New frontiers in testing International test conference proceedings 1988 Washington,DC september 12,13,14 1988
    Έκδοση 1988
    Πρακτικό Συνεδρίου Βιβλίο
  8. 8
    Random Testing of Digital Circuits Theory and Applications
    ανά David, Rene
    Έκδοση 1998
    Βιβλίο
  9. 9
    Software metrics for product assessment
    ανά Bache, Richard, Bazzana, Gualtiero
    Έκδοση 1994
    Βιβλίο
  10. 10
    Software testing and analysis (ISSTA) Proceedings of the International Symposium. Cambridge, Massachusetts, USA, 28-30 June, 1993 ACM/SIGSOFT Vol.18, No 3, July 1993
    Βιβλίο
  11. 11
    Software Testing Techniques
    ανά Beizer, Boris
    Έκδοση 1990
    Βιβλίο
  12. 12
    Test and design validity Proceedings. International Test Conference, october 20-25, 1996 Washington D.C. USA
    Έκδοση 1996
    Βιβλίο
  13. 13
    Test Economis and design for testability for electronic circuits and systems
    ανά Ambler, A. P., Dear, I. D., Dick, J. H., Dislis, C.
    Έκδοση 1995
    Βιβλίο
  14. 14
    Testability concepts for digital ICs The Macrotest approach
    ανά Beenker, F. P., Bennets, R. G., Thijssen, A. P.
    Έκδοση 1995
    Βιβλίο
  15. 15
    Testing of digital systems /
    ανά Jha, Niraj K.
    Έκδοση 2003
    Βιβλίο
  16. 16
    Testings impact on design and technology International test conference proceedings 1986 Washington DC, september 8,9,10,11,1986
    Έκδοση 1986
    Πρακτικό Συνεδρίου Βιβλίο
  17. 17
    The changing philosophy of test International test conference proceedings 1990 Washington, DC, September 10-14, 1990
    Έκδοση 1990
    Πρακτικό Συνεδρίου Βιβλίο
  18. 18
    "Ελεγχος Ορθής Λειτουργίας Κρυφής Μνήμης" (Cache Memory Testing) Διπλωματική εργασία.
    ανά Μακρής, Γιώργος
    Έκδοση 1995
    Βιβλίο
  19. 19
    Τεχνικές και κυκλώματα εμφώλευσης συνόλου δοκιμής για τον έλεγχο VLSI συστημάτων
    Λήψη πλήρους κειμένου
    Βιβλίο
Εργαλεία αναζήτησης: Λήψη RSS – Αποστολή αναζήτησης με email