Εμφανίζονται 1 - 20 Αποτελέσματα από 34 για την αναζήτηση '"Frontiers in electronic testing ;"', χρόνος αναζήτησης: 0,06δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1
    Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
    ανά Bushnell, Michael L., Agrawal, Vishwani D.
    Έκδοση 2002
    “…Frontiers in Electronic Testing,…”
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  2. 2
    A Designer’s Guide to Built-In Self-Test
    ανά Stroud, Charles E.
    Έκδοση 2002
    “…Frontiers in Electronic Testing,…”
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  3. 3
    Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
    Έκδοση 2000
    “…Frontiers in Electronic Testing,…”
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  4. 4
    Boundary-Scan Interconnect Diagnosis
    ανά Sousa, José T. de, Cheung, Peter Y. K.
    Έκδοση 2001
    “…Frontiers in Electronic Testing,…”
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  5. 5
    High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test
    ανά Adams, R. Dean
    Έκδοση 2003
    “…Frontiers in Electronic Testing,…”
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  6. 6
    Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation
    Έκδοση 2003
    “…Frontiers in Electronic Testing,…”
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  7. 7
    Power-constrained Testing of VLSI Circuits
    ανά Nicolici, Nicola, Al-Hashimi, Bashir M.
    Έκδοση 2003
    “…Frontiers in Electronic Testing,…”
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  8. 8
    Verification by Error Modeling Using Testing Techniques in Hardware Verification /
    ανά Radecka, Katarzyna, Zilic, Zeljko
    Έκδοση 2003
    “…Frontiers in Electronic Testing,…”
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  9. 9
    Soft Errors in Modern Electronic Systems
    Έκδοση 2011
    “…Frontiers in Electronic Testing,…”
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  10. 10
    Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
    “…Frontiers in Electronic Testing,…”
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  11. 11
    Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations
    “…Frontiers in Electronic Testing,…”
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  12. 12
    CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test /
    ανά Pavlov, Andrei, Sachdev, Manoj
    Έκδοση 2008
    “…Frontiers In Electronic Testing,…”
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  13. 13
    New Methods of Concurrent Checking
    “…Frontiers In Electronic Testing,…”
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  14. 14
    Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
    “…Frontiers in Electronic Testing,…”
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  15. 15
    Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2nd Edition /
    Έκδοση 2007
    “…Frontiers in Electronic Testing,…”
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  16. 16
    Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability /
    Έκδοση 2008
    “…Frontiers in Electronic Testing,…”
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  17. 17
    Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
    ανά Larsson, Erik
    Έκδοση 2005
    “…Frontiers in Electronic Testing,…”
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  18. 18
    Data Mining and Diagnosing IC Fails
    ανά Huisman, Leendert M.
    Έκδοση 2005
    “…Frontiers in Electronic Testing,…”
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  19. 19
    Gizopoulos / Advances in ElectronicTesting
    Έκδοση 2006
    “…Frontiers in Electronic Testing,…”
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  20. 20
    Digital Timing Measurements From Scopes and Probes to Timing and Jitter /
    ανά Maichen, Wolfgang
    Έκδοση 2006
    “…Frontiers in Electronic Testing,…”
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Εργαλεία αναζήτησης: Λήψη RSS – Αποστολή αναζήτησης με email