Εμφανίζονται 1 - 2 Αποτελέσματα από 2 για την αναζήτηση '"The Morgan Kaufmann series in systems on silicon"', χρόνος αναζήτησης: 0,05δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1
    VLSI test principles and architectures : design for testability /
    Έκδοση 2006
    “…The Morgan Kaufmann series in systems on silicon…”
    Βιβλίο
  2. 2
    System-on-chip test architectures : nanometer design for testability /
    Έκδοση 2008
    “…The Morgan Kaufmann series in systems on silicon…”
    Βιβλίο
Εργαλεία αναζήτησης: Λήψη RSS – Αποστολή αναζήτησης με email