Εμφανίζονται 1 - 2 Αποτελέσματα από 2 για την αναζήτηση 'Kaupp, Gerd', χρόνος αναζήτησης: 0,01δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1
    Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching Application to Rough and Natural Surfaces /
    ανά Kaupp, Gerd
    Έκδοση 2006
    Full Text via HEAL-Link
    Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
  2. 2
    Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching Application to Rough and Natural Surfaces
    ανά Kaupp, Gerd
    Έκδοση 2006
    Λήψη πλήρους κειμένου
    Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Εργαλεία αναζήτησης: Λήψη RSS – Αποστολή αναζήτησης με email