IEEE Transactions on device and materials reliability
| Μορφή: | Επιστημονικό περιοδικό |
|---|---|
| Γλώσσα: | Greek |
| Έκδοση: |
New York
The Institute of Electrical and Electronics Engineers
2001
|
ΒΚΠ - Πατρα: SER
| Ταξιθετικός Αριθμός: |
621.38 |
|---|---|
| Αντίγραφο 1 | Στη βιβλιοθήκη |
