IEEE Transactions on device and materials reliability

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Μορφή: Επιστημονικό περιοδικό
Γλώσσα:Greek
Έκδοση: New York The Institute of Electrical and Electronics Engineers 2001
LEADER 00899nas a22002292u 4500
001 10041184
003 upatras
005 20210117195601.0
008 010927c us r p gre
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 621_380000000000000  |7 0  |9 19727  |a LISP  |b LISP  |c SER  |d 2016-04-24  |i 2002  |l 0  |o 621.38  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 1  |w 2016-04-24  |y JNL 
999 |c 11099  |d 11099 
022 |a 1530-4388 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
082 0 4 |a 621.38 
245 1 0 |a IEEE Transactions on device and materials reliability  |h [Περιοδικό] 
260 |a New York  |b The Institute of Electrical and Electronics Engineers  |c 2001 
310 |a Τριμηνιαίο 
362 0 |a 1(2001)-5(2005) 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΒΚΠ  |k ΠΕΡ  |h 621.38  |m 2002  |t 1  |3 Vol.1:No.1(2001:MAR)-Vol.5:No.4(2005:DEC) 
866 |a Vol.1:No.1(2001:MAR)-Vol.5:No.4(2005:DEC) 
942 |2 ddc  |s 1  |c JNL 
998 |c ΜΠΟΥΖΑΜΑΝΑΚΗ  |d 2001/09