Monte Carlo modeling for electron microscopy and microanalysis

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Joy, David C.
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: New York Oxford University Press 1995
Σειρά:Oxford series in optical and imaging sciences 9
Θέματα:
LEADER 01133nam a2200277 u 4500
001 10025525
003 upatras
005 20210117205916.0
008 970615s1995 us eng
020 |a 0195088743  |q (Πανόδετο) 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
041 0 |a eng 
050 4 |a 94-35642 
100 1 |a Joy, David C.  |9 151586 
245 1 0 |a Monte Carlo modeling for electron microscopy and microanalysis  |c David C. Joy 
260 |a New York  |b Oxford University Press  |c 1995 
300 |a viii, 216 p.  |b fig., tab.  |c 24 cm 
490 0 |a Oxford series in optical and imaging sciences  |v 9 
505 1 |a Includes references, index 
650 4 |a Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο  |9 88778 
650 4 |a Μέθοδος Monte Carlo  |9 200 
760 1 |a Oxford series in optical and imaging sciences  |g 9 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΦΥΣΙΚΟ  |k ΑΕΧ-1  |h 502.825 0113 JOY  |m 06214  |p 025000023665  |t 1 
942 |2 ddc  |c BK15 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 502_825000000000000_0113_JOY  |7 0  |9 195195  |a PHYS  |b PHYS  |d 2016-04-24  |i 06214  |l 0  |o 502.825 0113 JOY  |p 025000023665  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 1  |w 2016-04-24  |y BK15 
999 |c 119763  |d 119763