Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
Γλώσσα
English
Ελληνικά
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
Optical characterization of ep...
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε BibTeX
Αποθήκευση σε RIS
Μόνιμος σύνδεσμος
Optical characterization of epitaxial semiconductor layers
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς:
Bauer, Gunther
(Επιμελητής έκδοσης)
,
Richter, Wolfgang
(Επιμελητής έκδοσης)
Μορφή:
Βιβλίο
Γλώσσα:
English
Έκδοση:
Berlin
Springer
1996
Θέματα:
Ημιαγωγοί
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
ΒΚΠ - Πατρα: BSC
Λεπτομέρειες τεκμηρίων από ΒΚΠ - Πατρα: BSC
Ταξιθετικός Αριθμός:
537.622 6 OPT
Αντίγραφο 2
Στη βιβλιοθήκη
Φυσικό: Unknown
Λεπτομέρειες τεκμηρίων από Φυσικό: Unknown
Ταξιθετικός Αριθμός:
537.622 6 ΒAU
Αντίγραφο 1
Στη βιβλιοθήκη
Παρόμοια τεκμήρια
Semiconductor optics
ανά: Klingshirn, C. F.
Έκδοση: (1995)
Organometallic vapor-phase epitaxy theory and practice
ανά: Stringfellow, G.B. 1942- ((Gerald B.))
Έκδοση: (1999)
Semiconductors basic data
Έκδοση: (1996)
Handbook on semiconductors
Έκδοση: (1994)
Semiconductor devices physics and technology
ανά: Sze, S. M., 1936-
Έκδοση: (1985)
Βιβλιοθήκη & Κέντρο Πληροφόρησης
|
Πανεπιστήμιο Πατρών