Bauer, G., & Richter, W. (1996). Optical characterization of epitaxial semiconductor layers. Springer.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Bauer, Gunther, και Wolfgang Richter. Optical Characterization of Epitaxial Semiconductor Layers. Berlin: Springer, 1996.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Bauer, Gunther, και Wolfgang Richter. Optical Characterization of Epitaxial Semiconductor Layers. Springer, 1996.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.