Novel methods for post-manufacturing and in-field testing of VLSI circuits/systems /
Κύριος συγγραφέας: | |
---|---|
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
Άλλοι συγγραφείς: | |
Μορφή: | Thesis Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | http://hdl.handle.net/10889/10909 |
Φυσική περιγραφή: | 171 σ. : εικ. ; 30 εκ. |
---|---|
Βιβλιογραφία: | Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές. |