Novel methods for post-manufacturing and in-field testing of VLSI circuits/systems /

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Σισμάνογλου, Παναγιώτης (συγγραφέας)
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: Πανεπιστήμιο Πατρών Πολυτεχνική Σχολή Τμήμα Μηχανικών Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορικής
Άλλοι συγγραφείς: Νικολός, Δημήτρης Β. (επιβλέπων καθηγητής)
Μορφή: Thesis Βιβλίο
Γλώσσα:English
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://hdl.handle.net/10889/10909
LEADER 01449nam a22002417a 4500
003 GR-PaULI
005 20210117210618.0
008 180504s2017 gr a|||f m||| 00| 0 eng d
040 |a GR-PaULI  |b gre  |c GR-PaULI  |e AACR2 
082 4 |2 23  |a 005.746 
100 1 |9 168655  |a Σισμάνογλου, Παναγιώτης  |e συγγραφέας 
245 1 0 |a Novel methods for post-manufacturing and in-field testing of VLSI circuits/systems /   |c Panagiotis Sismanoglou. 
300 |a 171 σ. :  |b εικ. ;  |c 30 εκ. 
502 |a Διδακτορική διατριβή (Δ.Δ.)--Πανεπιστήμιο Πατρών, 2017. 
504 |a Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές. 
650 0 |9 25252  |a Συμπίεση δεδομένων (Επιστήμη των υπολογιστών) 
700 1 |a Νικολός, Δημήτρης Β.   |e επιβλέπων καθηγητής  |9 38931 
710 |9 38081  |a Πανεπιστήμιο Πατρών  |b Πολυτεχνική Σχολή  |b Τμήμα Μηχανικών Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορικής 
856 |u http://hdl.handle.net/10889/10909 
942 |2 ddc  |c BKTD 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 005_746000000000000_ΣΙΣ  |7 0  |9 221831  |a LISP  |b LISP  |c RES  |d 2018-05-04  |i 041885  |l 0  |o 005.746 ΣΙΣ  |p 025000065081  |r 2018-05-04 00:00:00  |t 1  |v 2018.00  |w 2018-05-04  |y BKTD 
998 |b ΓΙΑΝΝΟΠΟΥΛΟΥ ΓΕΩΡΓΙΑ  |d 2018-05 
999 |c 134054  |d 134054