Novel methods for post-manufacturing and in-field testing of VLSI circuits/systems /

Bibliographic Details
Main Author: Σισμάνογλου, Παναγιώτης (συγγραφέας)
Corporate Author: Πανεπιστήμιο Πατρών Πολυτεχνική Σχολή Τμήμα Μηχανικών Ηλεκτρονικών Υπολογιστών και Πληροφορικής
Other Authors: Νικολός, Δημήτρης Β. (επιβλέπων καθηγητής)
Format: Thesis Book
Language:English
Subjects:
Online Access:http://hdl.handle.net/10889/10909

Similar Items