System-on-chip test architectures : nanometer design for testability /

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Wang, Laung-Terng (επιμελητής.), Stroud, Charles E. (επιμελητής.), Touba, Nur A. (επιμελητής.)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Amsterdam ; Boston : Morgan Kaufmann Publishers, c2008.
Σειρά:The Morgan Kaufmann series in systems on silicon
Θέματα:
LEADER 03714cam a2200385 a 4500
001 14878050
003 GR-PaULI
005 20210705133404.0
008 070604s2008 ne a b 001 0 eng
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_SYS  |7 0  |8 NFIC  |9 326567  |a LISP  |b LISP  |c BSC  |d 2021-07-05  |i 151764  |l 0  |o 621.395 SYS  |p 025000281377  |r 2021-07-05 00:00:00  |t 1  |v 2021.00  |w 2021-07-05  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_SYS  |7 0  |8 NFIC  |9 326569  |a LISP  |b LISP  |c BSC  |d 2021-07-05  |i 151767  |l 0  |o 621.395 SYS  |p 025000281374  |r 2021-07-05 00:00:00  |t 2  |v 2021.00  |w 2021-07-05  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_SYS  |7 0  |8 NFIC  |9 326570  |a LISP  |b LISP  |c ALFe  |d 2021-07-05  |i 151768  |l 0  |o 621.395 SYS  |p 025000281375  |r 2021-07-05 00:00:00  |t 3  |v 2021.00  |w 2021-07-05  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_SYS  |7 0  |8 NFIC  |9 326571  |a LISP  |b LISP  |c ALFe  |d 2021-07-05  |i 151769  |l 0  |o 621.395 SYS  |p 025000281376  |r 2021-07-05 00:00:00  |t 4  |v 2021.00  |w 2021-07-05  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_SYS  |7 0  |8 NFIC  |9 326572  |a LISP  |b LISP  |c ALFe  |d 2021-07-05  |i 151770  |l 0  |o 621.395 SYS  |p 025000281371  |r 2021-07-05 00:00:00  |t 5  |v 2021.00  |w 2021-07-05  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_SYS  |7 0  |8 NFIC  |9 326573  |a LISP  |b LISP  |c ALFe  |d 2021-07-05  |i 151771  |l 0  |o 621.395 SYS  |p 025000281372  |r 2021-07-05 00:00:00  |t 6  |v 2021.00  |w 2021-07-05  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_SYS  |7 0  |8 NFIC  |9 326574  |a LISP  |b LISP  |c ALFe  |d 2021-07-05  |i 151772  |l 0  |o 621.395 SYS  |p 025000281373  |r 2021-07-05 00:00:00  |t 7  |v 2021.00  |w 2021-07-05  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_SYS  |7 0  |8 NFIC  |9 326575  |a LISP  |b LISP  |c ALFe  |d 2021-07-05  |i 151773  |l 0  |o 621.395 SYS  |p 025000281369  |r 2021-07-05 00:00:00  |t 8  |v 2021.00  |w 2021-07-05  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 621_395000000000000_SYS  |7 0  |8 NFIC  |9 326576  |a LISP  |b LISP  |c ALFe  |d 2021-07-05  |i 151774  |l 0  |o 621.395 SYS  |p 025000281370  |r 2021-07-05 00:00:00  |t 9  |v 2021.00  |w 2021-07-05  |y BK15  |x Μεταφορά από Τμ. Μηχανικών ΗΥ & Πληροφορικής 
999 |c 183213  |d 183213 
010 |a  2007023373 
020 |a 9780123739735 (σκληρό εξώφυλλο) 
040 |a DLC  |c GR-PaULI  |b gre  |e AACR2 
082 0 4 |a 621.395  |2 23 
245 0 0 |a System-on-chip test architectures :  |b nanometer design for testability /  |c edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba. 
260 |a Amsterdam ;  |a Boston :  |b Morgan Kaufmann Publishers,  |c c2008. 
300 |a xxxvi, 856 σ. :  |b εικ. ;  |c 25 εκ. 
490 1 |a The Morgan Kaufmann series in systems on silicon 
504 |a Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.  
650 4 |a Ολοκληρωμένα κυκλώματα  |x Ολοκλήρωση πολύ μεγάλης κλίμακας  |9 35013 
700 1 |a Wang, Laung-Terng.  |9 169496  |e επιμελητής. 
700 1 |a Stroud, Charles E.  |9 186587  |e επιμελητής. 
700 1 |a Touba, Nur A.  |9 186588  |e επιμελητής. 
830 0 |9 186583  |a The Morgan Kaufmann series in systems on silicon  
942 |2 ddc  |c BK15 
998 |c ΜΠΟΥΡΑΣ  |d 2021-07