System-on-chip test architectures : nanometer design for testability /

• Other Authors: Wang, Laung-Terng (επιμελητής.), Stroud, Charles E. (επιμελητής.), Touba, Nur A. (επιμελητής.)
• Format: Book
• Language: English
• Published: Amsterdam ; Boston : Morgan Kaufmann Publishers, c2008.
• Series: The Morgan Kaufmann series in systems on silicon
• Subjects: Ολοκληρωμένα κυκλώματα > Ολοκλήρωση πολύ μεγάλης κλίμακας