Alford, T. L., Feldman, L. C., & Mayer, J. W. (2007). Fundamentals of Nanoscale Film Analysis. Springer Science+Business Media, Inc.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Alford, Terry L., Leonard C. Feldman, και James W. Mayer. Fundamentals of Nanoscale Film Analysis. Boston, MA: Springer Science+Business Media, Inc, 2007.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Alford, Terry L., et al. Fundamentals of Nanoscale Film Analysis. Springer Science+Business Media, Inc, 2007.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.