Fundamentals of Nanoscale Film Analysis

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Alford, Terry L.
Άλλοι συγγραφείς: Feldman, Leonard C., Mayer, James W., 1930-
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Boston, MA Springer Science+Business Media, Inc. 2007
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-29261-8
LEADER 01428nom a2200385 u 4500
001 10069523
003 upatras
005 20210117201543.0
008 090512s2007 eng
020 |a 9780387292618 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
041 0 |a eng 
100 1 |a Alford, Terry L.  |9 64427 
245 1 0 |a Fundamentals of Nanoscale Film Analysis  |h [electronic resource]  |c by Terry L. Alford, Leonard C. Feldman, James W. Mayer 
260 |a Boston, MA  |b Springer Science+Business Media, Inc.  |c 2007 
300 |b v.: digital 
650 4 |a Surfaces (Physics)  |9 64420 
650 4 |a Nanotechnology  |9 19191 
650 4 |a Particles (Nuclear physics)  |9 19607 
650 4 |a Condensed matter  |9 64428 
650 4 |a Electronics  |9 15695 
650 4 |a Chemistry  |9 11013 
650 4 |a Characterization and Evaluation of Materials  |9 64421 
650 4 |a Surfaces and Interfaces, Thin Films  |9 64422 
650 4 |a Nanotechnology  |9 19191 
650 4 |a Solid State Physics and Spectroscopy  |9 64425 
650 4 |a Condensed Matter  |9 64429 
650 4 |a Electronics and Microelectronics, Instrumentation  |9 64430 
700 1 |a Feldman, Leonard C.  |9 64431 
700 1 |9 64432  |a Mayer, James W.,  |d 1930- 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΒΚΠ 
856 4 0 |u http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-29261-8 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |7 0  |9 70968  |a LISP  |b LISP  |d 2016-04-24  |l 0  |r 2016-04-24 00:00:00  |w 2016-04-24  |y ERS 
999 |c 45769  |d 45769