Physical Principles of Electron Microscopy An Introduction to TEM, SEM, and AEM
Κύριος συγγραφέας: | Egerton, Ray F. |
---|---|
Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Boston, MA
Springer Science+Business Media, Inc.
2005
|
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | http://dx.doi.org/10.1007/b136495 |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
ανά: Foster, Adam
Έκδοση: (2006) -
Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy Methodology
ανά: Ayache, Jeanne
Έκδοση: (2010) -
Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy Techniques
ανά: Ayache, Jeanne
Έκδοση: (2010) -
Physical Principles of Electron Microscopy An Introduction to TEM, SEM, and AEM /
ανά: Egerton, Ray F.
Έκδοση: (2005) -
Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale
ανά: Kalinin, Sergei
Έκδοση: (2007)