Physical Principles of Electron Microscopy An Introduction to TEM, SEM, and AEM
| Κύριος συγγραφέας: | Egerton, Ray F. |
|---|---|
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Boston, MA
Springer Science+Business Media, Inc.
2005
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | http://dx.doi.org/10.1007/b136495 |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy Techniques
ανά: Ayache, Jeanne
Έκδοση: (2010) -
Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy Methodology
ανά: Ayache, Jeanne
Έκδοση: (2010) -
Metal Matrix Composites
ανά: Chawla, Nikhilesh
Έκδοση: (2006) -
Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
ανά: Foster, Adam
Έκδοση: (2006) -
Modern Aspects of Electrochemistry
ανά: Vayenas, C. G.
Έκδοση: (2006)