Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Foster, Adam
Άλλοι συγγραφείς: Hofer, Werner
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: New York, NY Springer Science+Business Media, LLC 2006
Σειρά:NanoScience and Technology
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1007/0-387-37231-8

Διαδίκτυο

http://dx.doi.org/10.1007/0-387-37231-8

ΒΚΠ - Πατρα: Unknown

Λεπτομέρειες τεκμηρίων από ΒΚΠ - Πατρα: Unknown
Ταξιθετικός Αριθμός: Unknown
Αντίγραφο Unknown Στη βιβλιοθήκη