Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Foster, Adam
Άλλοι συγγραφείς: Hofer, Werner
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: New York, NY Springer Science+Business Media, LLC 2006
Σειρά:NanoScience and Technology
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1007/0-387-37231-8
LEADER 01528nom a2200409 u 4500
001 10072559
003 upatras
005 20210223182855.0
008 090513s2006 eng
020 |a 9780387372310 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
041 0 |a eng 
100 1 |a Foster, Adam  |9 70845 
245 1 0 |a Scanning Probe Microscopy  |h [electronic resource]  |b Atomic Scale Engineering by Forces and Currents  |c by Adam Foster, Werner Hofer 
260 |a New York, NY  |b Springer Science+Business Media, LLC  |c 2006 
300 |b v.: digital 
490 0 |a NanoScience and Technology  |x 1434-4904 
650 4 |a Nanotechnology  |9 19191 
650 4 |a Materials  |9 13218 
650 4 |a Surfaces (Physics)  |9 64420 
650 4 |a Μικροσκόπια  |9 1255 
650 4 |a Μοριακή δομή  |9 667 
650 4 |a Particles (Nuclear physics)  |9 19607 
650 4 |a Chemistry  |9 11013 
650 4 |a Nanotechnology  |9 19191 
650 4 |a Characterization and Evaluation Materials  |9 64522 
650 4 |a Surfaces and Interfaces, Thin Films  |9 64422 
650 4 |a Biological Microscopy  |9 64423 
650 4 |a Atomic and Molecular Structure and Spectra  |9 64461 
650 4 |a Solid State Physics and Spectroscopy  |9 64425 
700 1 |a Hofer, Werner  |9 70846 
760 1 |a NanoScience and Technology  |x 1434-4904 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΒΚΠ 
856 4 0 |u http://dx.doi.org/10.1007/0-387-37231-8 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |7 0  |9 74015  |a LISP  |b LISP  |d 2016-04-24  |l 0  |r 2016-04-24 00:00:00  |w 2016-04-24  |y ERS 
999 |c 48804  |d 48804