Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

• Κύριος συγγραφέας: Foster, Adam
• Άλλοι συγγραφείς: Hofer, Werner
• Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: New York, NY Springer Science+Business Media, LLC 2006
• Σειρά: NanoScience and Technology
• Θέματα: Nanotechnology; Materials; Surfaces (Physics); Μικροσκόπια; Μοριακή δομή; Particles (Nuclear physics); Chemistry; Characterization and Evaluation Materials; Surfaces and Interfaces, Thin Films; Biological Microscopy; Atomic and Molecular Structure and Spectra; Solid State Physics and Spectroscopy