Kaupp, G. (2006). Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces. Springer-Verlag Berlin Heidelberg.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Kaupp, Gerd. Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces. Berlin, Heidelberg: Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2006.
Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)Kaupp, Gerd. Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces. Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2006.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.