Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching Application to Rough and Natural Surfaces

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Kaupp, Gerd
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Berlin, Heidelberg Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2006
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-28472-7

Διαδίκτυο

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-28472-7

ΒΚΠ - Πατρα: Unknown

Λεπτομέρειες τεκμηρίων από ΒΚΠ - Πατρα: Unknown
Ταξιθετικός Αριθμός: Unknown
Αντίγραφο Unknown Στη βιβλιοθήκη