Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
Άλλοι συγγραφείς: | |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
New York :
Springer,
c2003.
|
Έκδοση: | 3rd ed. |
Θέματα: |
Φυσική περιγραφή: | xix, 689 σ. : εικ. (μερ. έγχρ.) ; 26 εκ. + 1 CD-ROM (4 3/4 in.) |
---|---|
Βιβλιογραφία: | Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο. |
ISBN: | 0306472929 |