Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
| Άλλοι συγγραφείς: | |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
New York :
Springer,
c2003.
|
| Έκδοση: | 3rd ed. |
| Θέματα: |
| Φυσική περιγραφή: | xix, 689 σ. : εικ. (μερ. έγχρ.) ; 26 εκ. + 1 CD-ROM (4 3/4 in.) |
|---|---|
| Βιβλιογραφία: | Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο. |
| ISBN: | 0306472929 |