Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
| Other Authors: | |
|---|---|
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
New York :
Springer,
c2003.
|
| Edition: | 3rd ed. |
| Subjects: |
| Physical Description: | xix, 689 σ. : εικ. (μερ. έγχρ.) ; 26 εκ. + 1 CD-ROM (4 3/4 in.) |
|---|---|
| Bibliography: | Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο. |
| ISBN: | 0306472929 |