Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
Other Authors: | |
---|---|
Format: | Book |
Language: | English |
Published: |
New York :
Springer,
c2003.
|
Edition: | 3rd ed. |
Subjects: |
Physical Description: | xix, 689 σ. : εικ. (μερ. έγχρ.) ; 26 εκ. + 1 CD-ROM (4 3/4 in.) |
---|---|
Bibliography: | Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο. |
ISBN: | 0306472929 |