Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /

Bibliographic Details
Other Authors: Goldstein, Joseph 1939- (συγγραφέας.)
Format: Book
Language:English
Published: New York : Springer, c2003.
Edition:3rd ed.
Subjects:
Description
Physical Description:xix, 689 σ. : εικ. (μερ. έγχρ.) ; 26 εκ. + 1 CD-ROM (4 3/4 in.)
Bibliography:Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.
ISBN:0306472929