Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits Mitigating Soft Errors and Process Variations
Κύριος συγγραφέας: | Garg, Rajesh |
---|---|
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | SpringerLink (Online service) |
Άλλοι συγγραφείς: | Khatri, Sunil P |
Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Boston, MA
Springer-Verlag US
2010
|
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0931-2 |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Minimizing and Exploiting Leakage in VLSI Design
ανά: Jayakumar, Nikhil
Έκδοση: (2010) -
On and Off-Chip Crosstalk Avoidance in VLSI Design
ανά: Duan, Chunjie
Έκδοση: (2010) -
VLSI Design for Video Coding H.264/AVC Encoding from Standard Specification to Chip
ανά: Lin, Youn-Long Steve
Έκδοση: (2010) -
Extreme Low-Power Mixed Signal IC Design Subthreshold Source-Coupled Circuits
ανά: Tajalli, Armin
Έκδοση: (2010) -
Advanced Test Methods for SRAMs Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
ανά: Bosio, Alberto
Έκδοση: (2010)