Accelerated testing statistical modes, test plans, and data analysis
Κύριος συγγραφέας: | |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
New York
John Wiley and Sons
1990
|
Σειρά: | Wiley series in probability and mathematical statistics : Applied probability and statistics
|
Θέματα: |
ΒΚΠ - Πατρα: BSC
Ταξιθετικός Αριθμός: |
519.5 NEL |
---|---|
Αντίγραφο 1 | Στη βιβλιοθήκη |
Αντίγραφο 2 | Στη βιβλιοθήκη |
Αντίγραφο 3 | Στη βιβλιοθήκη |