Accelerated testing statistical modes, test plans, and data analysis

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Nelson, Wayne 1936- (Συγγραφέας)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: New York John Wiley and Sons 1990
Σειρά:Wiley series in probability and mathematical statistics : Applied probability and statistics
Θέματα:

ΒΚΠ - Πατρα: BSC

Λεπτομέρειες τεκμηρίων από ΒΚΠ - Πατρα: BSC
Ταξιθετικός Αριθμός: 519.5 NEL
Αντίγραφο 1 Στη βιβλιοθήκη
Αντίγραφο 2 Στη βιβλιοθήκη
Αντίγραφο 3 Στη βιβλιοθήκη