Accelerated testing statistical modes, test plans, and data analysis

• Κύριος συγγραφέας: Nelson, Wayne 1936- (Συγγραφέας)
• Μορφή: Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: New York John Wiley and Sons 1990
• Σειρά: Wiley series in probability and mathematical statistics : Applied probability and statistics
• Θέματα: Αξιοπιστία (Μηχανική); Στατιστικά μοντέλα
• Φυσική περιγραφή: xiv, 601 p. ill. 25 cm.