Accelerated testing statistical modes, test plans, and data analysis

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Nelson, Wayne 1936- (Συγγραφέας)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: New York John Wiley and Sons 1990
Σειρά:Wiley series in probability and mathematical statistics : Applied probability and statistics
Θέματα:

Παρόμοια τεκμήρια