Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices /
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | |
| Μορφή: | Πρακτικό Συνεδρίου Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
New York :
Plenum Press,
1979.
|
| Σειρά: | NATO ASI series. Physics
46. |
| Θέματα: |
ΒΚΠ - Πατρα: Reference Shelf
| Ταξιθετικός Αριθμός: |
Π/Σ 621.381 520 28 ΝΑΤ |
|---|---|
| Αντίγραφο 1 | Στη βιβλιοθήκη |
