Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices /

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: NATO Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices Villa Tuscolano, Italy
Άλλοι συγγραφείς: Zemel, Jay N. (επιμελητής.)
Μορφή: Πρακτικό Συνεδρίου Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: New York : Plenum Press, 1979.
Σειρά:NATO ASI series. Physics 46.
Θέματα:
Περιγραφή
Φυσική περιγραφή:xi, 782 σ. : εικ. ; 26 εκ.
Βιβλιογραφία:Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.
ISBN:0306402939