Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices /

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: NATO Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices Villa Tuscolano, Italy
Άλλοι συγγραφείς: Zemel, Jay N. (επιμελητής.)
Μορφή: Πρακτικό Συνεδρίου Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: New York : Plenum Press, 1979.
Σειρά:NATO ASI series. Physics 46.
Θέματα:
LEADER 01279nam a2200265 u 4500
001 10002736
003 GR-PaULI
005 20210117203437.0
008 881025s1979 us eng
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 Π_Σ_621_381000000000000_520_28_ΝΑΤ  |7 0  |9 115238  |a LISP  |b LISP  |c REF  |d 2016-04-24  |i 07735  |l 0  |o Π/Σ 621.381 520 28 ΝΑΤ  |p 025000106532  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 1  |v 2016.00  |w 2016-04-24  |y BKN 
999 |c 76926  |d 76926 
020 |a 0306402939 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI  |b gre  |e AACR2 
082 0 4 |a 621.381 520 28  |2 23 
111 |9 176176  |a NATO Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices  |d (1978 :   |c Villa Tuscolano, Italy) 
245 1 0 |a Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices /  |c edited by Jay N. Zemel. 
260 |a New York :  |b Plenum Press,  |c 1979. 
300 |a xi, 782 σ. :  |b εικ. ;  |c 26 εκ. 
490 1 |a NATO ASI series : Series B: Physics  |v 46. 
504 |a Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο.  
650 4 |a Ημιαγωγοί  |9 722 
700 1 |a Zemel, Jay N.  |4    |9 109286  |e επιμελητής. 
830 0 |a NATO ASI series.   |n Series B.  |p Physics   |v 46.  |9 162287 
942 |2 ddc  |c BKN 
998 |c ΜΠΟΥΡΑΣ  |d 2019-06