Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices /
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | NATO Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices Villa Tuscolano, Italy |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | Zemel, Jay N. (επιμελητής.) |
| Μορφή: | Πρακτικό Συνεδρίου Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
New York :
Plenum Press,
1979.
|
| Σειρά: | NATO ASI series. Physics
46. |
| Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Materials used in semiconductor devices /
Έκδοση: (1965) -
Introduction to semiconductor materials and devices
ανά: Tyagi, M. S.
Έκδοση: (1991) -
Materials for high-temperature semiconductor devices
Έκδοση: (1995) -
Semiconductor devices physics and technology
ανά: Sze, S. M., 1936-
Έκδοση: (1985) -
Semiconductor devices an introduction
ανά: Singh, Jasprit
Έκδοση: (1994)