Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices /

• Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: NATO Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices Villa Tuscolano, Italy
• Άλλοι συγγραφείς: Zemel, Jay N. (επιμελητής.)
• Μορφή: Πρακτικό Συνεδρίου Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: New York : Plenum Press, 1979.
• Σειρά: NATO ASI series. Physics 46.
• Θέματα: Ημιαγωγοί