An artificial intelligence approach to test generation

• Κύριος συγγραφέας: Singh, Narinder (Συγγραφέας)
• Μορφή: Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Boston Kluwer Academic Publishers c1987
• Σειρά: Kluwer International Series in Engineering and Computer Science
• Θέματα: INTEGRATED CIRCUITS; VLSI; Τεχνητή νοημοσύνη
• Περιγραφή τεκμηρίου: Βιβλιογραφία : σσ. 189-193
• Φυσική περιγραφή: x,193p. fig.
• ISBN: 0 89838 185 1