An artificial intelligence approach to test generation

• Κύριος συγγραφέας: Singh, Narinder (Συγγραφέας)
• Μορφή: Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Boston Kluwer Academic Publishers c1987
• Σειρά: Kluwer International Series in Engineering and Computer Science
• Θέματα: INTEGRATED CIRCUITS; VLSI; Τεχνητή νοημοσύνη