An artificial intelligence approach to test generation
Κύριος συγγραφέας: | Singh, Narinder (Συγγραφέας) |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Boston
Kluwer Academic Publishers
c1987
|
Σειρά: | Kluwer International Series in Engineering and Computer Science
|
Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Logic Testing and Design for Testability
ανά: Fujiwara, Hideo
Έκδοση: (1985) -
Built-in test for VLSI: preudorandom techniques
ανά: Bardell, Paul H., κ.ά.
Έκδοση: (1987) -
High-Level Test synthesis of digial VLSI Circuits
ανά: Tien-Chien Lee, Mike
Έκδοση: (1997) -
Digital circuit testing and testability
Έκδοση: (1997) -
Design of VLSI Systems A Practical Introduction
ανά: Brackenbury, Linda E.
Έκδοση: (1987)