Testings impact on design and technology International test conference proceedings 1986 Washington DC, september 8,9,10,11,1986
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
|---|---|
| Μορφή: | Πρακτικό Συνεδρίου Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Washington DC
IEEE Computer Society Press
c1986
|
| Θέματα: |
Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής: Unknown
| Ταξιθετικός Αριθμός: |
621.381 548 |
|---|---|
| Αντίγραφο 1 | Στη βιβλιοθήκη |
