Testings impact on design and technology International test conference proceedings 1986 Washington DC, september 8,9,10,11,1986
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
|---|---|
| Μορφή: | Πρακτικό Συνεδρίου Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Washington DC
IEEE Computer Society Press
c1986
|
| Θέματα: |
| Περιγραφή τεκμηρίου: | Περιέχει βιβλιογραφικές αναφορές |
|---|---|
| Φυσική περιγραφή: | xxx, 1009p. fig. |
| ISBN: | 0 8186 4726 2 |
