Testings impact on design and technology International test conference proceedings 1986 Washington DC, september 8,9,10,11,1986

Testings impact on design and technology International test conference proceedings 1986 Washington DC, september 8,9,10,11,1986

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: International Test Conference Washington
Μορφή: Πρακτικό Συνεδρίου Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Washington DC IEEE Computer Society Press c1986
Θέματα:
IEEE
PROCEEDINGS
Δοκιμές
ΠΡΑΚΤΙΚΑ ΣΥΝΕΔΡΙΩΝ
LEADER 01130nam a22002773u 4500
001 10102488
003 upatras
005 20210426115800.0
008 991022s eng
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 621_381000000000000_548  |7 0  |9 128459  |a CEID  |b CEID  |d 2016-04-24  |l 0  |o 621.381 548  |r 2016-04-24 00:00:00  |t 1  |w 2016-04-24 
999 |c 84208  |d 84208 
020 |a 0 8186 4726 2 
040 |a Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ  |c Βιβλιοθήκη ΕΑΙΤΥ 
041 0 |a eng 
111 2 |9 185024  |a International Test Conference  |c Washington)  |d (1986 : 
245 1 0 |a Testings impact on design and technology  |b International test conference proceedings 1986 Washington DC, september 8,9,10,11,1986 
260 |a Washington DC  |b IEEE Computer Society Press  |c c1986 
300 |a xxx, 1009p.  |b fig. 
500 |a Περιέχει βιβλιογραφικές αναφορές 
650 4 |a IEEE  |9 24256 
650 4 |a PROCEEDINGS  |9 24278 
650 4 |a Δοκιμές  |9 117099 
650 4 |a ΠΡΑΚΤΙΚΑ ΣΥΝΕΔΡΙΩΝ  |9 113060 
710 2 |a IEEE  |4 fnd  |9 24256 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΤΜΗΥΠ  |h 621.381 548  |t 1 
942 |2 ddc  |c BK15 

Παρόμοια τεκμήρια