Integration of test with design and manufacturing International test conference proceedings 1987 Washington DC, september 1,2,3 1987

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: International Test Conference Washington
Μορφή: Πρακτικό Συνεδρίου Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Washington DC IEEE Computer Society Press c1987
Θέματα:

Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής: Unknown

Λεπτομέρειες τεκμηρίων από Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής: Unknown
Ταξιθετικός Αριθμός: 621.381 548
Αντίγραφο 1 Στη βιβλιοθήκη